SJ 20884-2003 相控阵天线测试方法

SJ电子行业标准

SJ 20884-2003.Testing method for phased array antenna.
1范围
SJ 20884规定了相控阵天线方向图、增益等的测试原理、测试方法和测试步骤。
SJ 20884适用于相控阵天线的测试。
2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款。凡注日期或版次的引用文件,其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本标准,但提倡使用本标准的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB 3784雷达名词术语
GJB 74A军用地面雷 达通用规范
GJB 3262雷达天线分系统性能测试方法增益
GJB 3310雷达天线分系统性能测试方法方向图
3术语和定义
GB3784、GJB74A、GJB3262、GJB3310确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
3.1 有源相控阵天线 active phased array antenna
由天线辐射单元(或子阵)与发射功率放大器、低噪声接收放大器(T/R模块)和移相器等有源部件所构成的相控阵列天线.
3.2无源相控阵天线passive phased array antenna
由天线辐射单元(或子阵)与无源(或光学)馈电网络和移相器等部件所构成的相控阵列天线。
3.3多波束阵列天线multi-beam array antenna
利用波束形成网络,在空间不同方向同时并独立地形成多个波束的阵列天线。
3.4 子阵sub array
阵列天线孔径如分成若千个较小的阵列,这样的小阵列称为子阵。
3.5副瓣电平side lobe level
副瓣最大值相对于主瓣最大值的比值。
3.6 远区副瓣 remote side | obe文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/95249.html

SJ 20884-2003 相控阵天线测试方法

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最近更新2022-1-14
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