SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路测试方法的基本原理

SJ/T 10800-1996.General principles of measuring methods for semiconductor interface integrated circuits.
SJ/T 10800规定了半导体集成接口电路读当放大器(以下简称器件)静态特性和动态特性测试方法的基本原理。
若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。
1总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。
1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间，施于被测器件的电源电压误差应在规定值的±1%以内;施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。
1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。
1.5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外,在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能测试。
1.6被测器件有 内部存储或滞后现象时，测试前应有预置位周期。
2静态特性测试
2.1差分输入阚值电压Vr
2.1.1定义
在规定的参考电压下，使输出端为高电平电压或低电平电压时，差分输入端所施加的阈值电压。
2.1.2测试原理图
VT的测试原理图如图1所示。
2.2.1定义
在规定的参考电压下，超过输人动态范围并引起输出逻辑转换的最小共模输人电压。
2.2.2
测试原理图
VIcF的测试原理图如图2所示。文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/94715.html

SJ/T 10800-1996 半导体集成接口电路测试方法的基本原理