SJ/T 10801-1996 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理

SJ/T 10801-1996.General principies of measuring methods of magnetlc memortrivem for semiebnductor interface integrated circuits.
SJ/T 10801规定了半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器(以下简称器件)静态特性和动态特性测试方法的基本原理。
若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。
1总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间，环境或参考点温度偏离规定的范围应符合器件详细规范的规定。
1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备弓起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间,施于被测器件的电源电压误差应在规定的土1%以内。施于被测器件的其他电参数的精度应符合器件详细规范的规定。
1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。
1.5除了被测器件的功能是由特性测试来证实外， 在静态特性测试和动态特性测试前应进行功能测试。
1.6被测器件有内部存储或滞后现象时，测试前应有预置位周期。
2静态特性测试
2.1输入钳 位电压V IK
2.1.1定义
输人端在抽出规定电流时的电压。
2.1.2测试原理图
V IK的测试原理图如图1所示。
2.8.1 定义
输入端在施加规定的电平下，使输出管为饱和导通时集电极和发射极间的电压。
2.8.2测试原理图文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/94714.html

SJ/T 10801-1996 半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理