SJ/T 10784-1996 电子元器件详细规范半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路

SJ/T 10784-1996.Detail specification for electronic component-Semiconduc tor integrated circuit- CD 7609CP horizontal and vertical sweep circuit.
SJ/T 10784规定了半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路鉴定和质量评定的全部内容。
SJ/T 10784符合GB 4589.1-84 《半导体集成电路总规范》的要求。
中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。
5电特性
电特性的检验要求见本规范第8章。
5.1静态特性
若无其它规定,适用于全工作温度范围。
7订货资料
a.产品型号;
b.国家详细规范的编号;
c.质量评定类别;
d.其它。
8试验条件和检验要求，
抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB 4589.1 -84第3.6.2款的有关规定抽样。
附加说明。
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。
本标准由全国集成电路标准化技术委员会模拟分会负责起草。
.本标准主要起草入孙仁兴、陈裕煆。文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/94348.html

SJ/T 10784-1996 电子元器件详细规范半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路