SJ/T 11629-2016.Test method for in-line characterization of photovoltaic silicon wafers and cells by using photoluminescence.
1范围
SJ/T 11629规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)和电池片的在线光致发光分析方法。
SJ/T 11629适用于太阳能电池用硅片和电池片,在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前,需由供需双方协商确定。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文候,改注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文化其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文用
GB/T 14264 半星体材料术语
3术语和定义
GB/T 14264界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
硅落silof,fol
硅片表面未贞的硅片的局部区域缺损。
4方法提要
放置在承载装置上的硅片或电池片被传送并经过成像系统,如图1所示。 用波长小于1104 nm的光源作为激发光照射硅片或电电户。理片或电池片体内缺陷区域主要为缺陷复合发光,而无缺陷区域主要为本征发光,选取合适的带通滤波器,就可以通过相机获取码片或电池片中缺陷与本征发光存在明显光强差异的图片,再经过图像处理系统分析,就能获得所测样品的缺陷在硅片或电池片各处的分布情况,进而对硅片或电池片进行质量监控。常见的在线光政发光测试结果参见附录A。文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/92429.html
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